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          國芯科技取得芯片設(shè)計(jì)專利,實(shí)現(xiàn)故障覆蓋率和功耗的平衡

          2023-12-26 16:36:28來源:
          導(dǎo)讀金融界2023年12月25日消息,據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,蘇州國芯科技股份有限公司取得一項(xiàng)名為“一種芯片設(shè)計(jì)方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)“,授...

          金融界2023年12月25日消息,據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,蘇州國芯科技股份有限公司取得一項(xiàng)名為“一種芯片設(shè)計(jì)方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)“,授權(quán)公告號CN116681015B,申請日期為2023年8月。

          專利摘要顯示,本申請公開了一種芯片設(shè)計(jì)方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì),涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括:獲取安全等級與子模塊的映射關(guān)系;所述映射關(guān)系用于表征在不同汽車安全等級下芯片內(nèi)需要進(jìn)行故障檢查的子模塊;獲取目標(biāo)芯片對應(yīng)的目標(biāo)安全等級,根據(jù)所述目標(biāo)安全等級通過查詢所述映射關(guān)系確定出目標(biāo)芯片對應(yīng)的目標(biāo)子模塊;在所述目標(biāo)芯片運(yùn)行過程中,對所述目標(biāo)芯片的兩個(gè)內(nèi)核中的所述目標(biāo)子模塊的輸出進(jìn)行比對校驗(yàn),以實(shí)現(xiàn)對內(nèi)核中目標(biāo)子模塊的故障檢查。實(shí)現(xiàn)故障覆蓋率和功耗的平衡,使得同一芯片能夠適配不同的安全等級需求,讓其能盡可能地復(fù)用于整車不同域控系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,提高了車規(guī)級芯片的復(fù)用性,利于系統(tǒng)開發(fā),降低了車廠的成本及開發(fā)周期。

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