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1、大規(guī)模集成電路 (LSI)測試技術(shù)包括測試生成技術(shù)、響應(yīng)鑒別技術(shù)、測試儀技術(shù)和易測設(shè)計(jì)技術(shù)等。
2、LSI 電路的測試方法,首先是針對大規(guī)模集成存儲器和微處理器這類數(shù)字電路的。
3、數(shù)字集成電路功能測試的一般過程是:將一系列邏輯信號(由“1”、“0”組合的測試碼)加到被測電路的輸入端,同時(shí)將輸出響應(yīng)信號與預(yù)期設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)信號進(jìn)行比較。
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