當(dāng)前大家對于大規(guī)模集成電路測試技術(shù)都是頗為感興趣的，大家都想要了解一下大規(guī)模集成電路測試技術(shù)，那么小美也是在網(wǎng)絡(luò)上收集了一些關(guān)于大規(guī)模集成電路測試技術(shù)的一些信息來分享給大家，希望能夠幫到大家哦。

1、大規(guī)模集成電路 (LSI)測試技術(shù)包括測試生成技術(shù)、響應(yīng)鑒別技術(shù)、測試儀技術(shù)和易測設(shè)計(jì)技術(shù)等。

2、LSI 電路的測試方法，首先是針對大規(guī)模集成存儲器和微處理器這類數(shù)字電路的。

3、數(shù)字集成電路功能測試的一般過程是：將一系列邏輯信號（由“1”、“0”組合的測試碼）加到被測電路的輸入端，同時(shí)將輸出響應(yīng)信號與預(yù)期設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)信號進(jìn)行比較。

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