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1、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試是是一種數(shù)量化的、對(duì)智力的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量。
2、有兩種個(gè)體施測(cè)至今還在廣泛應(yīng)用:斯坦福-比奈(Stanford-Binet)測(cè)驗(yàn)和韋克斯勒(Wechsler)測(cè)驗(yàn)。
3、斯坦福-比奈量表智商分布:140以上為非常優(yōu)秀(天才);120-139為優(yōu)秀;110-119為中上、聰慧;90-109為中等;80-89為中下;70-79為臨界智能不足;69以下為智力缺陷。
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