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1、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)智力測(cè)試是是一種數(shù)量化的、對(duì)智力的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量。

2、有兩種個(gè)體施測(cè)至今還在廣泛應(yīng)用：斯坦福-比奈(Stanford-Binet)測(cè)驗(yàn)和韋克斯勒(Wechsler)測(cè)驗(yàn)。

3、斯坦福-比奈量表智商分布：140以上為非常優(yōu)秀(天才)；120-139為優(yōu)秀；110-119為中上、聰慧；90-109為中等；80-89為中下；70-79為臨界智能不足；69以下為智力缺陷。

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